電子產品可靠性試驗方法(DOC 53頁)

1產品加電篩選時檢測性能的溫度循環範圍
2產品不加電篩選時的溫度循環範圍
3產品加電篩選時檢測性能的上限溫度循環範圍
4產品加電篩選時檢測性能的下限溫度循環範圍
C1，C2——電路複雜度失效率；
C3——封裝複雜度失效率；
Dpf——已知的在工廠的缺陷率，PPM；
Dpf——統計得到的工廠缺陷率；
DPO——已知的缺陷率，PPM；
Dpu——已知的在使用現場的缺陷率，PPM；
GRMS0—規定的均方根加速度，g。
K1、K2、K3——根據統計數據導出的常數。
K2=C2+C3
W0——0.04g2/Hz；
W0—規定的加速度功率譜密度，g2/Hz。
W1——所用振動量值，g2/Hz。
YL=e－DRG求得YL
λΡ——統計得到的工廠缺陷率；
πE1——已知缺陷率所在環境的環境係數，可從有關標準查得；
πE2——要計算的缺陷率所在環境的環境係數，可從有關標準查得。
πE——環境係數；
πL——器材成熟係數；
πPT可編程工藝係數，除可編程序的隻讀存儲器外，其餘為一。
πQ——質量係數；
πT——溫度應力係數；
πV——電應力係數；
從標準中查表獲得λD
b)求產品可靠性增長前的MTBF值
C1×πT×πV×πTP=K1=0.00017
DPC=(πQ2/πQ1)[DPU×(πE2/πE1)+DPf](2-4-8)
DPf——已知的工廠中缺陷率，PPM。
DPU——已知的現場缺陷率，PPM；
DR——殘留缺陷密度。
λ1——已知缺陷率的元器件的失效率；
λ2——要求解缺陷率的元器件的失效率。
πE1——已知缺陷率的元器件的環境係數；
πE2——要求取缺陷率的元器件的環境係數；
πQ1——已知缺陷率的元器件的質量係數；
πQ2——要求取缺陷率的元器件的質量係數；
表2-4-5殘留缺陷密度與MTBF的關係
表2-3-6篩選應力效果對比
表2-4-1常用應力能發現的典型缺陷
表2-4-2各種產品篩選的缺陷比例
表2-4-3不同組裝等級情況的檢測效率
表2-4-4不同測試係統檢測效率範圍(%)
表2-4-6置信度為90%的篩選成品率下限值(λD/λ0=0.1-1.0)
表2-4-7功率譜密度、加速度均方根值和等效時間對照
表2-4-7列出按式(2-4-12)計算的數據。
表2-5-1隨機振動應力容差範圍
表2-5-2某型號電台環境應力篩選故障記錄
表3-1-1可靠性增長試驗與環境應力篩選對比
表3-5-1某機載雷達可靠性增長試驗失效記錄
表3-5-2按可靠性增長AMSAA模型計算數據
表3-5-3數據處理結果與可靠性增長率
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