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ARM JTAG 調試原理

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PCB印製電路板
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arm, jtag, 調試原理
ARM JTAG 調試原理內容簡介
邊界掃描
在JTAG調試當中,邊界掃描(Boundary-Scan)是一個很重要的概念。邊界掃描技術的基本思想是在靠近芯片的輸入輸出管腳上增加一個移位寄存器單元。因為這些移位寄存器單元都分布在芯片的邊界上(周圍),所以被稱為邊界掃描寄存器(Boundary-Scan Register Cell)。當芯片處於調試狀態的時候,這些邊界掃描寄存器可以將芯片和外圍的輸入輸出隔離開來。通過這些邊界掃描寄存器單元,可以實現對芯片輸入輸出信號的觀察和控製。對於芯片的輸入管腳,可以通過與之相連的邊界掃描寄存器單元把信號(數據)加載倒該管腳中去;對於芯片的輸出管腳,也可以通過與之相連的邊界掃描寄存器“捕獲”(CAPTURE)該管腳上的輸出信號。在正常的運行狀態下,這些邊界掃描寄存器對芯片來說是透明的,所以正常的運行不會受到任何影響。這樣,邊界掃描寄存器提供了一個便捷的方式用以觀測和控製所需要調試的芯片。另外,芯片輸入輸出管腳上的邊界掃描(移位)寄存器單元可以相互連接起來,在芯片的周圍形成一個邊界掃描鏈(Boundary-Scan Chain)。一般的芯片都會提供幾條獨立的邊界掃描鏈,用來實現完整的測試功能。邊界掃描鏈可以串行的輸入和輸出,通過相應的時鍾信號和控製信號,就可以方便的觀察和控製處在調試狀態下的芯片。
利用邊界掃描鏈可以實現對芯片的輸入輸出進行觀察和控製。下一個問題是:如何來管理和使用這些邊界掃描鏈?對邊界掃描鏈的控製主要是通過TAP (Test Access Port)Controller來完成的。在下一個小節,我們一起來看看TAP是如何工作的。
2-2 TAP (TEST ACCESS PORT)
在上一節,我們已經簡單介紹了邊界掃描鏈,而且也了解了一般的芯片都會提供幾條邊界掃描鏈,用來實現完整的測試功能。下麵,我將逐步介紹如何實現掃描鏈的控製和訪問。 1 TWENTYONE TWENTYONECN@HOTMAIL.COM HTTP://TWENTYONE.BLOGCHINA.COM
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