SPC統計實用培訓教材(ppt 49頁)

SPC統計實用培訓教材目錄：
一、持續改進及統計過程控製概述
二、SPC基礎
三、計數型數據控製圖

SPC統計實用培訓教材內容提要：
持續改進及統計過程控製概述：
預防與檢測
過程控製係統
變差：普通原因及特殊原因
局部措施和對係統采取措施
過程控製和過程能力
過程改進循環及過程控製
控製圖：過程控製工具
控製圖的益處
SPC基礎：
SPC (Statistical Process Control)
統計過程控製：利用統計技術對過程中的各個階段進行監控，從而得到保證產品質量的目的。
二十世紀二十年代美國休哈特(W.A.Shewhart)首創過程控製(Process Control)理論極其監控過程的工具—控製圖(Control Chart)形成SPC的基礎，後擴展到任何可以應用的數理統計方法。
控製圖(Control Chart)：對過程質量特性記錄評估，以監察過程是否處於受控狀態的一種統計方法圖。
1924年5月6日休哈特提出的不合格樣品率P控製圖為世界第一張控製圖。
正態分布：
分布(distribution)：用來描述隨機現象的統計規律，說明兩個問題：變異的幅度有多大；出現這麼大幅度的概率。
計量特性值：如PCB金手指厚度、重量或時間等連續性數據，最常見的是正態分布(normal distribution)。
計件特性值：如內存合格/不合格兩種離散性數據，最常見的是二項分布(binomial distribution)。
計點特性值：如每條內存上少錫點數等離散性數據，最常見的是泊鬆分布(Poisson distribution)。
由於二項分布和泊鬆分布數據數理統計理論較複雜，以下討論以正態分布為例。

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