SPC計數計量統計法(PPT 234頁)

主要內容
概率的計算
練習一、計算概率
練習2計算概率
練習2計算概率（續）
正態分布
標準正態分布曲線
推斷正態分布的參數
兩個離散分布
平均數的優、缺點
中位數的優、缺點
眾數的優缺點
數據的離散程度
舉例：計算數據離散程度
舉例：計算數據離散程度（續）
舉例：計算數據離散程度(續）
計算樣本標準差的步驟
計算樣本標準差的步驟（續)
練習3計算均值和標準差
右偏態情形下分布集中程度與離散程度間的關係
左偏態分布下分布集中程度和離散程度間的關係
雙峰分布下分布集中程度與離散程度間的關係
中心極限定理
樣本均值的分布
練習4根據樣本推斷總體(續)
練習4根據樣本推斷總體（續）
繪製正態分布曲線
曲線下的麵積（概率）
正態曲線單側的概率
計算標準正態Z值
確定工序的總變異
確定工序的總變異(舉例）
練習6確定主要的變異（RedX)
練習6確定主要的變異(RedX)(續)
隨機抽樣
什麼是計量值控製圖？
控製圖的作用
控製圖可以達到的效果
控製圖的構成要素
控製圖示列
控製圖的應用步驟
步驟一、選擇需控製的產品質量特征值
步驟二、確定抽樣方案
步驟二、確定抽樣方案（續）
即時法與定期法之比較
步驟3收集數據
控製圖收集數據表格
步驟4確定中心線和控製限
步驟4確定中心線和控製限（續）
控製限係數表
控製限係數表（續）
-R圖控製線計算表（續）
步驟5繪製-R控製限
步驟6描點，並且在必要時重新計算控製限
控製限的變更問題
根據控製圖分析工序能力
練習4建立控製圖
練習4建立控製圖(續)
計數值控製圖的類型
計數值控製圖的步驟
不合格品率控製圖——P圖
不合格品率控製圖—P圖（續）
練習１　繪製ｐ控製圖
P圖上描點和分析
樣本含量不等時ｐ圖控製線的建立問題
不合格品率控製圖—ｎｐ圖
不合格品率控製圖—ｎｐ圖（續）
缺陷數控製圖－ｃ圖
Ｃ圖的中心線和控製線
單位缺陷控製圖－－ｕ圖
Ｕ圖的中心線和控製限
Ｃ圖示例：
Ｕ圖示例：
練習３　選擇控製圖的類型
練習３　選擇控製圖的類型（續）
解釋控製圖
圖的區域劃分及四種檢測
圖的區域劃分及四種檢測（續）
其他幾種缺陷
其他幾種缺陷（續）
計數值控製圖的觀察分析
計數值控製圖的觀察分析(續）
練習５　　分析控製圖
什麼是工序能力？
什麼是工序能力？（續）
分析工序能力的步驟
樣本含量與工序能力
合理的抽樣方案
多變異分析
多變異圖的繪製按以下步驟進行
多變異圖的繪製按以下步驟進行（續）
多變異分析舉例
多變異分析舉例（續）
根據多變異分析確定合理的抽樣方案
根據多變異分析確定合理的抽樣方案（續）
練習1繪製多變異圖
繪製多變異圖（續）
數據分布的正態性檢驗
根據直方圖判斷是否為正態分布
幾種非正態分布的直方圖
幾種非正態分布的直方圖（續）
非正態數據下工序能力
非正態數據下工序能力（續）
非正態分布---右偏態分布
非正態分布---左偏態分布
非正態分布---雙峰形分布
非正態分布---扁平型
非正態分布---尾部被切除
工序能力指數Cp和Cpk
單測公差下的工序能力指數Cpu和Cpl
單測公差下的工序能力指數Cpu和Cpl(續）
Cpk的計算
Cpk的計算(續)
練習3計算Cp和Cpk
摩托羅拉Cp和Cpk的目標
摩托羅拉Cp和Cpk的目標（續）
計數值數據工序能力的分析
計數值數據工序能力的分析(續)
摩托羅拉對DPMO的要求

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