SPC統計過程控製培訓課件(PPT 102頁)

統計過程控製（SPC）
1.1 什麼是SPC
1.2 過程
1.2.1 過程特性
1.3 基本統計概念
基本的統計概念
1.3.1 數據的種類
1.3.2 波動（變差）的概念：
（1）、波動的原因：
（2）、普通原因、特殊原因
普通原因和特殊原因的區別
（3）、波動的種類:
1.3.3、基本統計量說明
SPC的發展
SPC能解決之問題
SPC基本原理
（二）、控製圖的目的
（三）、控製圖的設計原理：
控製圖原理
兩類錯誤和3σ方式
控製圖的形成
規格界限和控製界限
控製圖的種類
1、建立X-R控製圖的四步驟：
A3、計算每個子組的均值和極差R：
A4、選擇控製圖的刻度：
A5、將均值和極差畫到控製圖上：
B3、在控製圖上畫出平均值和極差控製限的控製線
C6、重新計算控製限
C7、延長控製限繼續進行控製
1、建立P控製圖的步驟：
A1 選擇子組容量、頻率、數量
A2 計算每個子組內的不合格品率
A3 選擇控製圖的坐標刻度
A4 將不合格品率描繪在控製圖上
計算平均不合格率及控製限
畫線並標注
C1、分析數據點，找出不穩定的證據
C2、尋找並糾正特殊原因
使用控製圖的注意事項
過程能力
過程能力的研究
C與P的比較
6.Cpk和Ppk的差異
Cpk評級標準：（據此標準對計算出之製程能力指數做相應對策）
工序能力的評價與處置
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