統計過程控製SPC培訓課件(PPT 96頁)

統計的部分特征概念
數據類型介紹
控製圖的介紹.選用.判定
Agenda
過程 和 變異
一般原因 vs. 特殊原因
一般變異 vs. 特殊變異
受控 vs. 失控
“受控”
控製限
方差 與 標準差
為什麼用樣本估計總體的方差時，分母的n必須改為(n-1) ？
那為什麼平均數被固定後會限製數據的自由變化？
均值、中位數、眾數
全距、標準差、平均差
統計物理概念的總結
過程能力
應用Cpk計算過程能力的前提條件
過程能力 要求
思考題：6Sigma意味著什麼?
思考題
實例:平均數與全距控製圖
計算如下:X=40.264
R=5.48查係數表,當N=5時,D4=2.11,D3=0
X控製圖上下限:
R控製圖上下限:
R控製圖
分析結論
P控製圖實例
上下限計算公式如下:
計算結果如下:
P控製圖如下:
針對控製圖進行分析
三.控製圖的判異準則
測量誤差和變異
測量係統
測量係統分析
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