掃描電子顯微鏡與電子探針分析資料(ppt 54頁)

掃描電子顯微鏡與電子探針分析資料目錄：
1、工作原理及構造
2、掃描電鏡的像襯度及其應用

掃描電子顯微鏡與電子探針分析資料內容提要：
掃描電鏡的特點：
A、電子束在樣品表麵掃描
B、用於觀察樣品的形貌（具有立體感）
C、通過電子束激發樣品的特征X射線獲取樣品的成分信息。
較高的分辨率和很大的景深清晰地顯示粗糙樣品的表麵形貌
以多種方式給出微區成份等信息，用來觀察斷口表麵微觀形態，分析研究斷裂的原因和機理等
EM能彌補透射電鏡樣品製備要求 很高的缺點; 景深大; 放大倍數連續調節範圍大; 分辨本領比較高；
樣品製備非常方便可直接觀察大塊試樣固體材料樣品表麵和界麵分析適合於觀察比較粗糙的表麵： 材料斷口和顯微組織三維形態

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