環氧樹脂的飛行時間次級離子質譜儀分析(pdf 6頁)

環氧樹脂的飛行時間次級離子質譜儀分析內容提要：
八I-年代中後期發展的新型飛行時間次級離子質譜儀(TOF一SIMS) (1-6)有以下特
點:(1)並行探測所有質呈的離子，儀器傳輸串高，因而靈敏度高;(2)分析後.一般表麵損
傷小於百分之一原子單層，幾乎是無扣分析;(3)具有大的質最分析範圍m/z0-10000;
(4)質量分講率高，一般3000-10000; (5) 1-以液態金屬離子槍，空間分辨率可達It微米
級(1.7-10).
與傳統有機質譜分析一樣，獲得足夠強度的分子離子。淮分子離子峰對有機結構分析特
別重要‘在粗枯化的銀基底上，澱積待分析大分子有機物的單分子層或亞單分子層，是在
TOF-SIMS講中產生銀離化準分子離子(M+Ag)+的有效的方法.(M十Ag)相當於一個
未破壞的完整分子加上一個Ag+.用該方法研究各種聚合物很有效‘1,} 6)最近J. A
.Treverton等人用TOF-SIMS研究T一係列環氧樹脂tic〕本文報導了用TOF- SIMS結合
銀離化技術研究環氧618及環氧815的一些結果

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