低壓ZnO壓敏電阻器的性能與工藝研究論文(PDF 55頁）

§1．1 ZnO壓敏電阻的工作特性
§1．2低壓氧化鋅壓敏元件的用途
§1．3壓敏元件的現況
§1．4低壓元件存在的問題與相關工藝
§2 4 ZnO壓敏電阻器主材料研究
§2．2 ZnO壓敏電阻器的性能參數
§2．3 Zn0壓敏電阻器壓敏特性的研究
§2．5雜質的固溶問題
§2．6燒結過程研究
§2．7燒結模型
§2．8粉體粒度的問題
§2．9應力與漏電流分析
§3．1化學共沉澱法與元件性能測試
§3．2氧化鋅籽晶製備工藝以及性能
§3．3 TiO：溶膠製備工藝以及性能
§3．4混合法製備低壓氧化鋅壓敏元件
§3．5燒結與熱處理工藝的改進
§3．6配方改進
圖1．1 zno壓敏電阻的u-I曲線
圖1．2U-I曲線對比
圖1．2所示。
圖1．3 ZnO避雷器正常工作的等效電路
圖1．4中國大陸與發達國家優劣勢矩陣圖
圖2 4低壓ZaO元什的XRD衍射譜
圖2 I ZnO壓敏電阻器的顯微結構示意固
圖212電子探針點掃描結果
圖2．13 ZnO-Ti05係統相圖
圖2．14壓敏電壓與燒成溫度曲線圖
圖2．15證明了上述的解釋的合理性。非線性係數Q反映的實質就是晶界勢
圖2．15非線性係數與燒成溫度的圖
圖2．16 ZnO晶粒長大過程雜質固溶的模型
圖2．17一維情況下晶粒雜質濃度分布圖，k遠小於1時
圖2．18一維情況下晶粒雜質濃度分布圖，k取合適值時
圖2．19一維情況下晶粒雜質濃度分布圖，k接近1時
圖2．2(a)是低壓ZnO壓敏元件截麵的背散射電子圖像。對比一般的高壓元
圖2．2低壓壓敏電阻與低壓壓敏電阻的截麵對比圖
圖2．5壓敏兀件晶界能帶圖
圖2．6兩種ZnO的品格結構圖
圖2．7 zIlO晶體能帶圖
圖2．8 ZnO-Bi203二元相圖
圖2．9顯微鏡視野F的理想晶粒相組織結構示意圖
圖3．1共沉澱工藝流程圖
圖3．2共沉澱粉體XRD圖譜
圖3．4鄴5添加量與通流關係圖
圖中可毗得到以下有用的信息。
表1．1主要製粉工藝總結表
表21絕緣體導電機製
表3．1三種元素沉澱的pH值
表3．2共沉澱法製備元件與固相法製備元件的測試結果
表3．3不同籽晶添加量的元件的測試結果
表3．4 Ti02溶膠法製備元件與固相法製備元件的測試結果
表3．5複合法製備元件與固相法製備元件的測試結果
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