數字集成電路測試係統設計模式(doc 5)

所屬分類：: CIMS集成製造係統
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相關資料：: 數字集成電路, 電路測試, 係統設計, 設計模式

數字集成電路測試係統設計模式(doc 5)內容簡介

一、測試係統結構及工作原理
二、通道板
三、精密測量單元

隨著數字集成電路的廣泛應用，測試係統就顯得越來越重要。在網絡化集成電路可靠性試驗及測試係統項目中，需要檢驗某些具有寬電平範圍的軍用數字集成電路芯片，而市場上常見的中小型測試係統可測電平範圍達不到要求，而大型測試係統價格昂貴。本文介紹了為此項目研製的一種數字集成電路測試係統，可測電平範圍達±32V，使用方便，且成本較低

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