數字電路測試係統介紹(doc 11頁)

數字電路測試係統介紹內容提要：
美國Credence公司Electra MSR 100MHz
概述：
100MHz量測速率的功能驗證性設備，具有 Funtional Pattern產生、仿真、測試， DC參數 量測等功能。
非常適合IC設計公司進行樣片芯片驗證性測試及分析
特性:
4M的向量存儲深度/通道完整的功能Pattwen和DC參數測試係統 UNIX係統的操作軟件，可視化友好界麵
Shmoo Plot工具, 用於器件特性分析 可連接LABVIEW輔助性工具
直接連接到工作站服務器
係統規格
時鍾頻率：100 Mhz
數據速率： 200 Mbits/Sec
1.5 ns的上升和下降時間（ ECL、CMOS 電路）
每個管腳的電壓和負載可編程
每個管腳可編程邊緣分辨率50 ps
7 bits per Channel for Simultaneous Real-time
Compare and Data Acquisition
時鍾線形穩定，偏差 ≦±100 ps
係統偏差≦±1ns (ATS1)
每個管腳可選用直流精密測量單元
Window、Edge和Dual-Edge 采樣
128個I/O管腳 (ATS1)
APMU：直流精密測量單元
2.1 Gb擴展圖形存儲器
PCI-GPIB 和PCI-VXI接口板
Sun Ultra 10 工作站

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