透射電子顯微分析之圖像的襯度(PPT 88頁)

1.概述
電子顯微圖像是電子與物質相互作
用後所攜帶的結構信息的記錄。
入射到試樣中的電子束受到原子的散射，
在離開下表麵時除了入射方向的透射束外，
還有受晶體結構調製的各級衍射束，它們的振幅和相位都發生了變化
，依選取成像信息的不同，使獲得的圖像襯度出現了不同的形成機製。
襯度種類：振幅襯度質厚襯度
衍射襯度
相位襯度
質厚襯度
（適合於非晶樣品）
如果除透射束外還同時讓一束或多束衍射束參加成像，
就會由於各束的相位相幹作用而得到晶格(條紋)像和晶體結構(原子)像，
前者是晶體中原子麵的投影，而後者是晶體中原子或原子集團電勢場的二維投影。
用來成像的衍射束越多，得到的晶體結構細節越豐富。衍射襯度像的分辨率不能優於1.5nm
（弱束暗場像的極限分辨率），而相位襯度像能提供小於1.5nm的細節。因此，
這種圖像稱為高分辨像。用相位襯度方法成像(其原理請參考專著），
不僅能提供樣品研究對象的形態(在通常的倍率下相當於明場像)，
更重要的是提供了晶體結構信息。
2.電子衍襯成像
利用衍襯成像原理可以計算各像點的強度，從而可以定性乃至定量地解釋衍襯圖像的成因。
薄晶體電子顯微圖像的襯度可用運動學理論或動力學理論來解釋
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