PCB挑戰測試與光學檢查(doc 8頁)

PCB挑戰測試與光學檢查內容摘要：
本文介紹，一個電子製造服務(EMS)提供商怎樣評估與實施自動光學檢查(AOI)。
　　印刷電路板(PCB, Printed Circuit Board)製造商不斷地麵臨測試與檢查的挑戰。電路板密度的增加挑戰著傳統的針床(bed-of-nails)在線測試(ICT, in-circuit test)以及操作員的視覺檢查。改變電路板的尺寸大小提出更多的挑戰，因為它使手工檢查更加困難。為了對這些發展作出反應，越來越多的製造商開始評估自動光學檢查(AOI, automated optical inspection)作為一個解決方案。
　　AOI策略
　　在大批量和高複雜性的製造環境中，裝配線上每個操作員工位的占地麵積都代表著一個特殊的價值。對此，電子製造服務(EMS)提供商*希望檢查技術可以防止"漏網之魚"走出工廠，提高產品品質。因此，該公司將AOI作為一個工具，來幫助裝配線生產出持續的高品質電路板。
　　通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，該公司預期得到幾項利益：
* 早期發現缺陷將避免將壞板送到隨後的裝配階段
* AOI將減少修理成本
* 將避免報廢不可修理的電路板
表一、AOI 在裝配線上檢查什麼
檢查頂麵回流焊接元件
檢查波峰焊接前通孔元件
檢查波峰焊接之後的通孔及SMT元件
檢查壓入配合之前的連接器引腳
檢查壓入配合之後的連接器引腳

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