質量工程學的三個重要方法概述(doc 6頁)

質量工程學的三個重要方法概述目錄：
一、SPC—統計過程控製
二、DOE—實驗設計
三、FMEA—故障模式及影響分析
四、QFD—質量功能展開

質量工程學的三個重要方法概述內容摘要：
在生產過程中，產品的加工尺寸的波動是不可避免的。它是由人、機器、材料、方法和環境等基本因素的波動影響所致。波動分為兩種：正常波動和異常波動。正常波動是偶然性因素（不可避免因素）造成的。它對產品質量影響較小，在技術上難以消除，在經濟上也不值得消除。異常波動是由係統原因（異常因素）造成的。它對產品質量影響很大，但能夠采取措施避免和消除。過程控製的目的就是消除、避免異常波動，使過程處於正常波動狀態。
統計過程控製（簡稱SPC）是一種借助數理統計方法的過程控製工具。它對生產過程進行分析評價，根據反饋信息及時發現係統性因素出現的征兆，並采取措施消除其影響，使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態，以達到控製質量的目的。它認為，當過程僅受隨機因素影響時，過程處於統計控製狀態（簡稱受控狀態）；當過程中存在係統因素的影響時，過程處於統計失控狀態（簡稱失控狀態）。由於過程波動具有統計規律性，當過程受控時，過程特性一般服從穩定的隨機分布；而失控時，過程分布將發生改變。SPC正是利用過程波動的統計規律性對過程進行分析控製。因而，它強調過程在受控和有能力的狀態下運行，從而使產品和服務穩定地滿足顧客的要求。
實施SPC的過程一般分為兩大步驟：首先用SPC工具對過程進行分析，如繪製分析用控製圖等；根據分析結果采取必要措施：可能需要消除過程中的係統性因素，也可能需要管理層的介入來減小過程的隨機波動以滿足過程能力的需求。第二步則是用控製圖對過程進行監控。
控製圖是SPC中最重要的工具。目前在實際中大量運用的是基於Shewhart原理的傳統控製圖，但控製圖不僅限於此。近年來又逐步發展了一些先進的控製工具，如對小波動進行監控的EWMA和CUSUM控製圖，對小批量多品種生產過程進行控製的比例控製圖和目標控製圖；對多重質量特性進行控製的控製圖。（相關控製圖的介紹及應用將在今後陸續推出）
SPC源於上世紀二十年代，以美國Shewhart博士發明控製圖為標誌。自創立以來，即在工業和服務等行業得到推廣應用，自上世紀五十年代以來SPC在日本工業界的大量推廣應用對日本產品質量的崛起起到了至關重要的作用；上世紀八十年代以後，世界許多大公司紛紛在自己內部積極推廣應用SPC，而且對供應商也提出了相應要求。在ISO9000及QS9000中也提出了在生產控製中應用SPC方法的要求。

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