統計學基礎及MSASPC和CPK概述(PPT 87頁)

統計學基礎及MSA,SPC,CPK
一、統計方法及用途
二、統計數據及其分類
三、總體與樣本
四、統計特征數
五、數據分布形態
六、產品質量波動
測量System誤差
九、控製圖
（1）Xbar-R控製圖（平均數-極差控製圖）
質量資料可以合理分組時，為分析或控製製程平均使用Xbar-控製圖，當製程變異使用R-控製圖
（2）Xbar-S控製圖（平均數-標準差控製圖）
S-控製圖檢出力較R控製圖大，但計算麻煩，一般樣本n<6使用R控製圖，n>=6使用S控製圖
（3）Xmed-R控製圖（中位元元數-極差控製圖）
Xmed-控製圖檢出力較差，但計算較為簡單
（4）X-Rm控製圖（個別值-移動極差控製圖）
質量資料不能合理分組時使用，如液體濃度
(1)P控製圖(不良率控製圖)
用來偵查或控製生產批中不良件數的小數比或百分比,樣本大小n
可以不同。
(2)np控製圖(不良數控製圖)
用來偵查一個生產批中的實際不良數量(而不是與樣本的比率)。
分析或控製製程不良數,樣本大小n要相同。
(3)C控製圖(缺點數控製圖)
能在每一批量的生產中偵查出每一零件或受檢驗單位不良點的數
目,樣本大小n要相同。
(4)U控製圖(單位元缺點數控製圖)
記錄一個抽樣批有幾個缺點數,抽樣時每次可以不相同,但以單位
缺點數代表質量水平。
十、過程能力指數
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