統計方法教學(ppt 16頁)

SPC 基礎知識
SPC是英文 Statistical Process Control統計過程控製的縮寫，是應用統計技術繪控製圖對生產過程進行監控，最初的控製圖概念於1924年由美國的休哈特博士提出。這種方法自第二次世界大戰後，在工業中已得到了廣泛的應用，特別是1980年後在日本和美國，控製圖能用於單獨的質量改進的方法，SPC 理論認為生產過程中產品質量的缺陷是由偶然因素與異常原因造成，根據控製圖的規律從而發現生產過程的異常及時報警，以便采取措施消除異常，恢複過程的穩定，達到保證和提高質量的目的。
基本概念
n 子組大小。單個子組中子組觀測值的個數
k 子組數
X 質量特性的觀測值（可用X1，X2，X3…表示單個觀測值）
子組平均值的平均值

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