SPC統計過程控製培訓講義(PPT 202頁)

第一章統計技術基礎知識
第二章持續改進和統計過程控製
第三章控製圖運用步驟
第四章認識計量型數據的過程能力和過程性能
第五章其它幾個計量型控製圖
第六章計數型控製圖
第七章控製圖注意事項
SPC統計過程控製廖俊華
目錄
計量數據的基本統計—數據分布
常用統計量
連續型數據─了解極差
計算標準差
連續性數據─平滑(正態)分布
正態曲線和概率
正態分布的應用
正態分布的應用2
二項分布
二項分布的均值、方差與標準差
泊鬆分布
總結
WHATISSPC？
Shewhart:控製圖之創始人
控製圖在英國及日本曆史
產品質量的統計觀點
SPC的精神
SPC&SQC
SPC用在那裏？
控製圖種類(依用途)
控製用與分析用控製圖的區別
控製圖與APQP
控製圖種類(依數據類型)
CASESTUDY
樣本與總體
常規控製圖的統計原理
正態分布特點
正態分布概率
控製圖的作用
“α”及“β”風險
兩種錯誤損失分析
控製界限與α風險
過程漂移與β風險
控製界限與錯誤損失
關於β風險的補充
抽樣方法說明
如何確定子組
組內變異和組間差異
如何確定子組——正確例子
如何確定子組——錯誤例子
采用Xbar-R比X-Rm好
如何確定抽樣頻率
初期過程研究——抽樣頻率
長期過程研究——抽樣頻率
過程波動原因的構成
普通原因和特殊原因
普通原因、特殊原因示意圖
普通原因與特殊原因舉例
局部措施和係統措施
局部措施、係統措施示意圖
控製界限和規格界限
過程控製和過程能力
過程改進循環
取樣的方式
每個子組的平均值和極差的計算
選擇控製圖刻度
控製圖的判讀-準則1
控製圖的判讀-準則3
控製圖運用步驟
控製圖的判讀-準則5
控製圖的判讀-準則6
控製圖的判讀-準則7
控製圖的判讀-準則8
控製圖的判讀準則的選用
控製圖不穩定的分析
Xbar-R練習
手工計算如下：
判圖並分析
什麼是過程能力
過程能力指數Cpk
過程能力指數Cp值的評價參考
過程能力指數-CPK的計算
練習：
Cpk和Ppk的差異
指數差異說明——練習
指數差異說明
何時應用Cmk指數
Casestudy
機器能力指數、短期、長期能力指數
Cpm的說明
Cpm例
Cpm例-解答
練習
過程繼續控製
計量控製圖的中心線和上、下控製限
不良和缺陷的說明
P控製圖的製做流程
A1子組容量、頻率、數量
A2計算每個子組內的不合格品率
A3選擇控製圖的坐標刻度
A4將不合格品率描繪在控製圖上
計算平均不合格率及控製限
畫線並標注
分析數據點，找出不穩定的證據
尋找並糾正特殊原因
重新計算控製限
過程能力解釋
過程能力分析
不合格品數np圖
A收集數據
B計算控製限
過程控製解釋、過程能力解釋
缺陷數c圖
C畫線並標注
D過程控製解釋、過程能力解釋
單位產品缺陷數的u圖
注意事項2——及時響應
注意事項3——不超SPEC就沒有關係
疑難解答
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