QC五大工具介紹(PPT 62頁)

一、量測數據的質量
二、量測過程
三、量測係統的統計特性
1.量測係統均須在統計管製下而其所產生之變異
應根源於共同原因，而非特殊原因。
2.量測係統之變異須相對小於生產製程之變異。
3.量測係統之變異須相對小於規格界限。
4.量測係統之最小刻度須相對小於製程變異或規格界限之較小者。
(一)位置變異(Location Variation)
(二)寬度變異(Width Variation)
(三)量測係統變異(Measurement System Variation)
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