SPC統計過程控製應用技術(ppt 104頁)

SPC統計過程控製應用技術目錄：
第一部分、SPC技術概述
第二部分、SPC相關統計學原理與概念
第三部分、管製圖的原理、製作及圖形分析
第四部分、製程能力分析
第五部分、SPC應用實務
第六部分、測量係統分析

SPC統計過程控製應用技術內容摘要：
變差的特殊原因與一般原因
變差:
沒有兩件產品/特性是完全相同的，任何過程都存在許多引起變差的原因，產品間的差距及產品與標準間的差距總是存在的，這種差異叫 變差。
變差產生的原因：普通原因和特殊原因
普通原因：（共同原因/非機遇性原因 Common Cause)
製程中變異因素是在統計的管製狀態下，其產品特性有固定的分布。
特殊原因：（機遇性原因Special Cause)
製程中變異因素不在統計的管製狀態下，其產品特性沒有固定的分布。
過程控製的概念:
a.首先當出現變差的特殊原因時提供統計信號，從而對這些特殊原因采取適當的措施(或是消除或是保留)；
b.通過對係統采取措施從而減少變差的普通原因；提高過程能力，使產品符合規範。
SPC的作用與實質：
就是利用統計的工具，識別企業生產過程中的變差，從而消除機遇性變差（特殊原因引起），采取係統的管理措施消除變差的普通原因來改進過程的能力。

..............................