MINITAB質量策劃工具(doc 7頁)
MINITAB質量策劃工具(doc 7頁)內容簡介
MINITAB質量策劃工具內容提要:
走勢圖(Run Chart) [概述]
走勢圖可以顯示你將處理的數據的變化趨勢,並對非隨機行為進行兩種檢驗。走勢圖同時顯示所有的觀察結果及子組數,並在中位數處劃一水平線。但子組大小大於1時,走勢圖還可以顯示子組的均值或中位數並以線條將它們連接起來。
對非隨機行為的兩種檢驗可以探察趨勢、變動幅度、混合及數據的聚類性。這些分析表明已察覺的變差來自於異常因素,即來自於係統外的可以被糾正的因素。另一方麵,一般因素導致的變差,是隱含的變差或過程自身的屬性導致的變差。一個過程當僅有一般因素而不是異常因素影響過程輸出時才是受控的。
[例]
假設你在一家生產各種測量輻射的設備的公司工作。作為QC工程師,你對一個薄膜型的裝置持續測量輻射量的設備感興趣。你希望分析在一個試驗室中收集的二十台設備的數據。每次測試後,你都記錄下了每台設備測量的輻射量。
作為探討性的測量,你決定利用走勢圖評價測量結果的變動性。
1 Open the worksheet RADON.MTW.
2 Choose Stat > Quality Tools > Run Chart.
3 In Single column, enter Membrane.
4 In Subgroup size, enter 2. Click OK.
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走勢圖(Run Chart) [概述]
走勢圖可以顯示你將處理的數據的變化趨勢,並對非隨機行為進行兩種檢驗。走勢圖同時顯示所有的觀察結果及子組數,並在中位數處劃一水平線。但子組大小大於1時,走勢圖還可以顯示子組的均值或中位數並以線條將它們連接起來。
對非隨機行為的兩種檢驗可以探察趨勢、變動幅度、混合及數據的聚類性。這些分析表明已察覺的變差來自於異常因素,即來自於係統外的可以被糾正的因素。另一方麵,一般因素導致的變差,是隱含的變差或過程自身的屬性導致的變差。一個過程當僅有一般因素而不是異常因素影響過程輸出時才是受控的。
[例]
假設你在一家生產各種測量輻射的設備的公司工作。作為QC工程師,你對一個薄膜型的裝置持續測量輻射量的設備感興趣。你希望分析在一個試驗室中收集的二十台設備的數據。每次測試後,你都記錄下了每台設備測量的輻射量。
作為探討性的測量,你決定利用走勢圖評價測量結果的變動性。
1 Open the worksheet RADON.MTW.
2 Choose Stat > Quality Tools > Run Chart.
3 In Single column, enter Membrane.
4 In Subgroup size, enter 2. Click OK.
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