壽命試驗控製程序(doc 4頁)

壽命試驗控製程序內容提要：
1 目的：
為確保產品符合設計規格，仿真實體操作於預定之操作周期或壽命試驗後，其外觀結構、機械特性及電氣特性，符合產品規格書之規定。
2 範圍：
適用於新產品開發階段、生產製品、出貨批、不良分析及客戶要求各階段作業均適用之。
3 權責：
研究開發部：產品規格之相關資料提供，開發階段之驗證與確認。
品質保證課/品質工程課：執行產品各階段量測與記錄。
4 定義：
4.1 插拔仿真壽命：以測試卡插入至卡片閱讀機定位後，再退出測試卡為1次插拔仿真壽命。
4.2 機械特性：CP8接觸壓力，插、退卡力量與電鍍磨損情形。
4.3 電氣特性：CP8接觸阻抗，Detector接觸阻抗。
4.4 外觀功能：待測物外觀結構及操作功能。
5 作業內容：
5.1 作業範圍：
5.1.1 新產品開發階段：新產品在研究發展階段，由品質工程課進行各項量測，並將量測之結果以書麵資料或測試報告回饋以供開發驗證及改善依據。
5.1.2 生(試)產製品：當產品在生(試)產中或完成時，依實際需求由品質保證課執行各項量測以確保其品質及早發現問題，並將測試之結果以書麵資料或測試報告回饋以供參考及改善依據。
5.1.3 出貨批：由品質保證課視需求對出貨批成品執行量測，以供出貨品質判定與有關單位之改善依據。
5.1.4 不良分析及客戶要求：在生產過程中之不良品或客戶不良信息回饋，為追查原因及分析，或客戶要求提出檢測報告時。
5.2 抽樣標準與室溫條件：
5.2.1 量測樣品數視實際需求或依【抽樣作業標準書】中機構尺寸、物理特性抽樣作業標準之規定辦理。
..............................