規劃過程基線之程序基線描述(中英文版)(ppt 40頁)

規劃過程基線之程序基線描述(中英文版)目錄：
一、收集數據用以描述目前程序結果(Y)
二、差異的影響
三、常規原因的差異
四、可歸屬原因的差異
五、特殊原因變化舉例
六、合理子集數據
七、短期能力
八、長期能力
九、Z值程序能力的測量
十、程序控製 – SHIFT
十一、使用近似ZSHIFT
十二、六西格瑪比較
十三、基線
十四、……………………

規劃過程基線之程序基線描述(中英文版)內容提要：
此差異存在於每一程序中。
運用現有技術是不能控製或減少此差異。
此差異限製了程序能力。
在程序基線內，我們運用短期子群內的差異量來測量差異，短期子群即為通常所稱的合理子群。
sST記錄常規差異， ZST報告短期能力。
常規原因的差異的另一術語為殘差。
由於差異與程序技術相關聯，因此一個相對差的ZST會顯示需要重新描述部分程序設計。
這種差異是外來因素影響程序運行的結果。
運用現有的技術有潛在的可能來控製此差異。
隨著時間的推移，此差異將會影響到程序運行。
我們所計劃的程序基線是以最能捕獲可歸屬原因的差異為基本。
sLT記錄總體可歸屬原因的差異， ZLT能報告總體長期能力。
為了描述此差異，我們需要知道各種對於引起此差異起相當作用的重要因素。這就是分析的目的。

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