持續改進與統計過程控製概述(ppt 84頁)

持續改進與統計過程控製概述目錄：
一、 持續改進及統計過程控製概述
二、 用於計數型數據的控製圖
三、 不合格品數的np圖
四、 不合格數的C圖

持續改進與統計過程控製概述內容提要：
選擇控製圖的刻度：
對於X圖,坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值(X)的最大值與最小值差的 2 倍.對於 R 圖,刻度值應從最低值為 0 開始到最大值之間的差值為初始階段遇到的最大極差( R )的 2倍.
計算控製限：
計算控製限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均值和極差的變化範圍
分析極差圖上的數據點由於不論解釋子組極差或子組均值的能力都取決於零件間的變差.因此我們先分析 R 圖.
a.超出控製限的點-出現一個或多個點超出任一個控製限是該點處於失控狀態下的主要證據.通常說明存在下列情況中的一種或幾種:
控製限計算錯誤或描點時描錯;
零件間的變化已增大;
測量係統變化(例如,不同的檢驗員或量具);
測量係統沒有適當的分辨力.

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