統計過程控製SPC培訓教材(PPT 102頁)
統計過程控製SPC培訓教材(PPT 102頁)內容簡介
課程大綱:
二、SPC的目的
三、基本的統計概念
1、數據的種類
波動的原因:
3、基本統計量說明
(二)、控製圖的目的
(三)、控製圖的設計原理:
正態分布圖示:
控製圖原理
“?”及“?”風險定義
(四)、控製圖的種類
課堂練習:
1、建立Xbar-R控製圖的四步驟:
計算每個子組的均值和極差R:
選擇控製圖的刻度:
控製圖的判讀
D1、計算過程的標準偏差:
過程性能指數Ppk:
重要產品特性的過程能力要求:
1、建立不合格品率控製圖(P-chart)的步驟:
A1、選擇子組的容量、頻率及數量
A2、計算每個子組內的不合格品率
A3、選擇控製圖的坐標刻度
計算過程平均不合格率和上、下控製限
畫線並標注:
C1、分析數據點,找出不穩定證據
C3、重新計算控製界限
D1、計算過程能力
不合格品數np圖
B、計算控製限
不合格數的c圖:
A、收集數據
單位產品不合格數的u圖
控製圖的益處
使用控製圖的注意事項-1
什麼是6
..............................
二、SPC的目的
三、基本的統計概念
1、數據的種類
波動的原因:
3、基本統計量說明
(二)、控製圖的目的
(三)、控製圖的設計原理:
正態分布圖示:
控製圖原理
“?”及“?”風險定義
(四)、控製圖的種類
課堂練習:
1、建立Xbar-R控製圖的四步驟:
計算每個子組的均值和極差R:
選擇控製圖的刻度:
控製圖的判讀
D1、計算過程的標準偏差:
過程性能指數Ppk:
重要產品特性的過程能力要求:
1、建立不合格品率控製圖(P-chart)的步驟:
A1、選擇子組的容量、頻率及數量
A2、計算每個子組內的不合格品率
A3、選擇控製圖的坐標刻度
計算過程平均不合格率和上、下控製限
畫線並標注:
C1、分析數據點,找出不穩定證據
C3、重新計算控製界限
D1、計算過程能力
不合格品數np圖
B、計算控製限
不合格數的c圖:
A、收集數據
單位產品不合格數的u圖
控製圖的益處
使用控製圖的注意事項-1
什麼是6
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