CPK教材(ppt 21)
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CPK教材(ppt 21)內容簡介
統計製程管製
1. 統計(Statistics):搜集 ,整理,分析,解析數據,以小看大,並做成結論
2. 統計製程管製(SPC: Statistical Process Control):
依計劃收集製程連續數據資料,提供各種統計分析
及管製圖之處理,計算,圖示與列表,以達成預防,避免
不良的管製要求.
3. 統計方法: 設計抽樣計劃,由樣本推測母體
二.相關知識介紹
1. 數據分類(Data category )
計量值(Variables):連續性,即兩數值間有無限可能
數字.
計數值(Attribues): 間斷性,即兩數值間隻容許有限
可能數字
2. 名詞介紹:
批(Lot): 在相同條件下生產之一群東西的集合
樣本(Sample):要研究某種特性的部分個之集合.
不良率 P=d/n=不良數/檢驗數
影響度=(某種不良的各數/不良總數)*100%
PPM(Parts Per Million):每百萬個單位的不合格數.
三. 品質變異原因
1. 機遇原因(chance causes)
不可避免之原因、非人為原因等.
如:(1)同一量測工具由同一人量測同一位置,在短時間內
所量測值亦有差異存在.
(2)在生產操作條件容許範圍內所生產之產品變異.
(3)氣候或是環境變化.
..............................
1. 統計(Statistics):搜集 ,整理,分析,解析數據,以小看大,並做成結論
2. 統計製程管製(SPC: Statistical Process Control):
依計劃收集製程連續數據資料,提供各種統計分析
及管製圖之處理,計算,圖示與列表,以達成預防,避免
不良的管製要求.
3. 統計方法: 設計抽樣計劃,由樣本推測母體
二.相關知識介紹
1. 數據分類(Data category )
計量值(Variables):連續性,即兩數值間有無限可能
數字.
計數值(Attribues): 間斷性,即兩數值間隻容許有限
可能數字
2. 名詞介紹:
批(Lot): 在相同條件下生產之一群東西的集合
樣本(Sample):要研究某種特性的部分個之集合.
不良率 P=d/n=不良數/檢驗數
影響度=(某種不良的各數/不良總數)*100%
PPM(Parts Per Million):每百萬個單位的不合格數.
三. 品質變異原因
1. 機遇原因(chance causes)
不可避免之原因、非人為原因等.
如:(1)同一量測工具由同一人量測同一位置,在短時間內
所量測值亦有差異存在.
(2)在生產操作條件容許範圍內所生產之產品變異.
(3)氣候或是環境變化.
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